一种氮化镓衬底剥离方法
授权
摘要

本申请公开了一种氮化镓衬底剥离方法,包括:获取上表面直接生长有氮化镓外延结构的氮化镓衬底;利用激光光束经外延结构对氮化镓衬底内部进行扫描照射,在氮化镓衬底内产生分解层;激光光束为脉冲宽度小于10‑15s量级的激光,分解层与氮化镓衬底的上表面的距离小于氮化镓衬底的厚度;将氮化镓衬底在分解层处分离,得到剥离后氮化镓衬底和半导体器件。本申请在由氮化镓外延结构到氮化镓衬底的方向上,用激光光束照射氮化镓衬底,使氮化镓衬底内部发生热分解反应,氮化镓衬底在分解层处分离,得到单纯的剥离后氮化镓衬底和半导体器件,即在得到半导体器件的同时实现了氮化镓衬底的剥离,剥离后氮化镓衬底可以重复利用,降低氮化镓衬底的成本。

基本信息
专利标题 :
一种氮化镓衬底剥离方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114220740A
申请号 :
CN202210159444.4
公开(公告)日 :
2022-03-22
申请日 :
2022-02-22
授权号 :
CN114220740B
授权日 :
2022-05-13
发明人 :
郭芬苏康满宏涛李拓
申请人 :
苏州浪潮智能科技有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢
代理机构 :
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 :
王燕
优先权 :
CN202210159444.4
主分类号 :
H01L21/335
IPC分类号 :
H01L21/335  H01L21/268  H01L21/683  B23K26/53  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/02
半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21/04
至少具有一个跃变势垒或表面势垒的器件,例如PN结、耗尽层、载体集结层
H01L21/18
器件有由周期表Ⅳ族元素或含有/不含有杂质的AⅢBⅤ族化合物构成的半导体,如掺杂材料
H01L21/334
制造单极型器件的台阶式工艺
H01L21/335
场效应晶体管
法律状态
2022-05-13 :
授权
2022-04-08 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 21/335
申请日 : 20220222
2022-03-22 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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