半导体存储器件及其多位并行测试方法

专利权的终止

摘要

一种半导体存储器件及进行多位并行测试的方法，所述存储器件包含用于读出存储器单元组数据的读出电路；接在数据读出电路和数据总线对之间的驱动器，连接在读出电路和相应数据总线对之间的第一比较器，其输入接到数据总线对而输出可与数据输出缓冲器连接的第二比较器，以及数据选择装置。在正常模式下数据读出电路将来自存储器单元组的多个数据对通过驱动器位送给数据总线对，而在测试模式下数据读出电路将多个数据对送至第一比较器。

基本信息

专利标题：

半导体存储器件及其多位并行测试方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN1057720A

申请号：

CN90106619.2

公开（公告）日：

1992-01-08

申请日：

1990-07-31

授权号：

CN1025077C

授权日：

1994-06-15

发明人：

安启虎

申请人：

三星电子株式会社

申请人地址：

韩国京畿道水原市

代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司

代理人：

郭伟刚

优先权：

CN90106619.2

主分类号：

G01R31/26

IPC分类号：

G01R31/26 G11C29/00