光掩模的制造方法和利用光掩模制造半导体器件的方法
专利权的终止
摘要
本发明提供一种基于设计数据的光掩模制造方法,该方法包括如下步骤:形成包含光掩模上的版图图案中的图形元素和由于光学临近效应影响该图形元素的图形元素的图形元素组,将标识数据添加到表示相同的图形元素组的数据组,评估光学临近效应对图形元素组的影响,生成表示校正的图形元素的校正数据,在校正的图形元素中补偿曝光时光学临近效应的影响,通过使具有相同标识数据的数据与具有该相同标识数据的校正数据相关联,生成图形数据,以及利用图形数据在光掩模上形成掩模图案。因此,可以减少校正版图的计算时间,从而减少光掩模的生产时间。
基本信息
专利标题 :
光掩模的制造方法和利用光掩模制造半导体器件的方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1841388A
申请号 :
CN200510108434.4
公开(公告)日 :
2006-10-04
申请日 :
2005-10-08
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
二谷广贵森下和正
申请人 :
富士通株式会社
申请人地址 :
日本神奈川县
代理机构 :
隆天国际知识产权代理有限公司
代理人 :
郑小军
优先权 :
CN200510108434.4
主分类号 :
G06F17/50
IPC分类号 :
G06F17/50 G03F1/08
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法律状态
2020-09-25 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G06F 17/50
申请日 : 20051008
授权公告日 : 20100825
终止日期 : 20191008
申请日 : 20051008
授权公告日 : 20100825
终止日期 : 20191008
2010-11-10 :
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101039206948
IPC(主分类) : G06F 17/50
专利号 : ZL2005101084344
变更事项 : 专利权人
变更前 : 富士通微电子株式会社
变更后 : 富士通微电子株式会社
变更事项 : 地址
变更前 : 日本东京都
变更后 : 日本神奈川县横浜市
号牌文件序号 : 101039206948
IPC(主分类) : G06F 17/50
专利号 : ZL2005101084344
变更事项 : 专利权人
变更前 : 富士通微电子株式会社
变更后 : 富士通微电子株式会社
变更事项 : 地址
变更前 : 日本东京都
变更后 : 日本神奈川县横浜市
2010-11-10 :
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101039206949
IPC(主分类) : G06F 17/50
专利号 : ZL2005101084344
变更事项 : 专利权人
变更前 : 富士通微电子株式会社
变更后 : 富士通半导体股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 日本神奈川县横浜市
变更后 : 日本神奈川县横浜市
号牌文件序号 : 101039206949
IPC(主分类) : G06F 17/50
专利号 : ZL2005101084344
变更事项 : 专利权人
变更前 : 富士通微电子株式会社
变更后 : 富士通半导体股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 日本神奈川县横浜市
变更后 : 日本神奈川县横浜市
2010-08-25 :
授权
2008-12-10 :
专利申请权、专利权的转移(专利申请权的转移)
变更事项 : 申请人
变更前权利人 : 富士通株式会社
变更后权利人 : 富士通微电子株式会社
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 日本神奈川县
变更后权利人 : 日本东京都
登记生效日 : 20081107
变更前权利人 : 富士通株式会社
变更后权利人 : 富士通微电子株式会社
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 日本神奈川县
变更后权利人 : 日本东京都
登记生效日 : 20081107
2006-12-06 :
实质审查的生效
2006-10-04 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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