半导体芯片的直接电性连接覆晶封装结构
授权
摘要

本发明的半导体芯片的直接电性连接覆晶封装结构包括:至少一介电层;至少一半导体芯片,且该半导体芯片主动面形成有电性连接垫,并以其主动面接置在该介电层上;以及至少一线路层,形成于该介电层上未供接置半导体芯片的一侧,且该线路层借由多个形成于该介电层中的导电电极,电性连接到该半导体芯片上的电性连接垫;本发明整合了半导体芯片与芯片承载件的接置与电性连接结构,简化半导体业制程步骤、降低成本以及简化接口的整合,同时增加结构空间利用的灵活性,提升半导体装置的电性功能,在提升芯片的散热效能的同时,使该半导体封装结构更具薄型化。

基本信息
专利标题 :
半导体芯片的直接电性连接覆晶封装结构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1971898A
申请号 :
CN200510123397.4
公开(公告)日 :
2007-05-30
申请日 :
2005-11-25
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
许诗滨
申请人 :
全懋精密科技股份有限公司
申请人地址 :
台湾省新竹市
代理机构 :
北京纪凯知识产权代理有限公司
代理人 :
程伟
优先权 :
CN200510123397.4
主分类号 :
H01L23/498
IPC分类号 :
H01L23/498  H01L23/50  
相关图片
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L23/00
半导体或其他固态器件的零部件
H01L23/48
用于向或自处于工作中的固态物体通电的装置,例如引线或接线端装置
H01L23/488
由焊接或黏结结构组成
H01L23/498
引线位于绝缘衬底上的
法律状态
2009-11-18 :
授权
2007-07-25 :
实质审查的生效
2007-05-30 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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