本发明涉及用于测试半导体芯片、尤其是存储器芯片的方法，其中在要测试的具有测试逻辑单元的芯片中设置至少一个测试模式，在芯片中执行测试模式并从芯片中输出测试结果或测试模式的状态，该方法包括：提供具有n个不同寄存器组的芯片，每个寄存器组具有m个不同寄存器，且寄存器被分成各具有n个寄存器的m个寄存器群，每个寄存器群分别只具有一个寄存器组的单个寄存器，且能用m个报头唯一地标识m个寄存器群，n和m是大于或等于1的自然数；通过用m个第一位串填充m个寄存器群来对其编程，可将每个位串分别分配给n个测试模式的状态；为选择寄存器群和n个测试模式的状态，传输至少一个报头；利用串行第二位串读出测试结果或测试模式的状态。