蚀刻方法及使用该方法的接触孔的形成方法
发明专利申请公布后的驳回
摘要

提供一种一方面可抑制制造工艺的增加及制造成本增长,另一方面制造条件的控制不会变得困难、且形成超过曝光界限这样的细小尺寸的蚀刻结构的方法;在以薄膜晶体管等半导体装置中的接触孔为代表的、通过蚀刻形成的结构的形成方法及利用该方法的显示装置的制造方法中,特别是在以利用了有机膜的溶解回流技术的接触孔为代表的、通过蚀刻形成的结构的形成方法及利用了该方法的显示装置用的薄膜晶体管基板的制造方法中,至少包括以下工艺:使含有有机膜及添加了有机溶剂的膜之中的至少任意一个、且位于被蚀刻构成要素上的有机膜形成图案,并形成具有第一开口部及第二开口部的有机掩模的工艺;和通过使上述有机掩模与有机溶剂接触,溶解并回流上述有机掩模,形成变形有机掩模的工艺。

基本信息
专利标题 :
蚀刻方法及使用该方法的接触孔的形成方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1797216A
申请号 :
CN200510135720.X
公开(公告)日 :
2006-07-05
申请日 :
2005-12-28
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
城户秀作
申请人 :
NEC液晶技术株式会社
申请人地址 :
日本神奈川县
代理机构 :
中原信达知识产权代理有限责任公司
代理人 :
穆德骏
优先权 :
CN200510135720.X
主分类号 :
G03F7/20
IPC分类号 :
G03F7/20  H01L21/027  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G03
摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F
图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F7/00
图纹面,例如,印刷表面的照相制版如光刻工艺;图纹面照相制版用的材料,如:含光致抗蚀剂的材料;图纹面照相制版的专用设备
G03F7/20
曝光及其设备
法律状态
2011-09-14 :
发明专利申请公布后的驳回
号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101183794722
IPC(主分类) : G03F 7/20
专利申请号 : 200510135720X
公开日 : 20060705
2006-08-30 :
实质审查的生效
2006-07-05 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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