内部生成用于集成电路装置中进行测试的模式
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
在与第二集成电路芯片(204)一起包含在单个封装中的第一集成电路芯片(202)中，系统包括在第一集成电路芯片上的用于在常规操作期间接收来自第二集成电路芯片的地址信号的电路(218)。第一集成电路芯片上的电路产生用于在测试模式中测试第一集成芯片的地址信号。
基本信息
专利标题 ：
内部生成用于集成电路装置中进行测试的模式
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101548337A
申请号 ：
CN200680017215.8
公开（公告）日 ：
2009-09-30
申请日 ：
2006-03-16
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
A·E·翁
申请人 ：
恩纳柏斯技术公司
申请人地址 ：
美国加利福尼亚州
代理机构 ：
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 ：
曾祥夌
优先权 ：
CN200680017215.8
主分类号 ：
G11C29/00
IPC分类号 ：
G11C29/00 G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器
法律状态
2014-04-02 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
号牌文件类型代码 : 1603
号牌文件序号 : 101699765899
IPC(主分类) : G11C 29/00
专利申请号 : 2006800172158
申请公布日 : 20090930
号牌文件序号 : 101699765899
IPC(主分类) : G11C 29/00
专利申请号 : 2006800172158
申请公布日 : 20090930
2009-11-25 ：
实质审查的生效
2009-10-14 ：
专利申请权、专利权的转移(专利申请权的转移)
变更事项 : 申请人
变更前权利人 : 恩纳柏斯技术公司
变更后权利人 : 拉姆巴斯公司
变更事项 : 地址
变更前 : 美国加利福尼亚州
变更后 : 美国加利福尼亚州
登记生效日 : 20090911
变更前权利人 : 恩纳柏斯技术公司
变更后权利人 : 拉姆巴斯公司
变更事项 : 地址
变更前 : 美国加利福尼亚州
变更后 : 美国加利福尼亚州
登记生效日 : 20090911
2009-09-30 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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