梯型结构的半导体晶片处理设备
专利权的终止
摘要

本实用新型涉及半导体生产的晶片处理设备的结构,特别是用化学方法去除边缘光刻胶或去除晶片上残余物设备的结构。包括盒站模块、第一晶片处理模块、第二晶片处理模块、传送机器人模块,所述的盒站模块包括第一盒站单元和第二盒站单元,所述的模块及组成单元呈梯形结构,2个盒站单元占据梯形的上顶边的两个顶点、2个晶片处理模块占据梯形的下底边的两个顶点,1个机器人在下底边的中心。这样的结构简单实用,便于维修,使得设备具有良好的可维护性,还使得晶片质量的稳定性大大提升。

基本信息
专利标题 :
梯型结构的半导体晶片处理设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820013652.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-06-25
授权号 :
CN201247765Y
授权日 :
2009-05-27
发明人 :
胡延兵冯伟
申请人 :
沈阳芯源微电子设备有限公司
申请人地址 :
110168辽宁省沈阳市浑南新区飞云路16号
代理机构 :
沈阳科苑专利商标代理有限公司
代理人 :
周秀梅
优先权 :
CN200820013652.9
主分类号 :
H01L21/00
IPC分类号 :
H01L21/00  H01L21/677  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
法律状态
2018-07-13 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : H01L 21/00
申请日 : 20080625
授权公告日 : 20090527
终止日期 : 20170625
2009-05-27 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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