半导体装置

授权

摘要

本发明涉及半导体装置。半导体装置包括包含第一计数器的第一计时器、包含第二计数器的第二计时器以及包含CPU的控制器以提供用于有效地诊断半导体装置(诸如，微控制器等)中内置的计时器的故障的技术。第一计时器执行与布置在半导体装置外部的外部设备的时间的时间同步。控制器将第一计数器的计数值与第二计数器的计数值进行比较以及基于比较结果检测第二计时器的故障。

基本信息

专利标题：

半导体装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN107229543A

申请号：

CN201710171555.6

公开（公告）日：

2017-10-03

申请日：

2017-03-22

授权号：

CN107229543B

授权日：

2022-04-22

发明人：

铃木慎一

申请人：

瑞萨电子株式会社

申请人地址：

日本东京

代理机构：

中国国际贸易促进委员会专利商标事务所

代理人：

欧阳帆

优先权：

CN201710171555.6

主分类号：

G06F11/22

IPC分类号：

G06F11/22 G04D7/00

IPC结构图谱

G部——物理

G06

计算；推算或计数

G06F

电数字数据处理

G06F11/00

错误检测；错误校正；监控

G06F11/22

在准备运算或者在空闲时间期间内，通过测试作故障硬件的检测或定位

法律状态

2022-04-22 ：

授权

2019-03-12 ：

实质审查的生效

IPC(主分类) : G06F 11/22
申请日 : 20170322

2017-10-03 ：

公开

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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