制造半导体装置的方法
授权
摘要
在制造半导体装置的方法中，制备布局。布局包括主动区域图案、第一鳍切割图案及第二鳍切割图案，其中每个主动区域图案对应于单个或两个鳍结构。选自由第一鳍切割图案及第二鳍切割图案组成的群组的至少一个图案具有非矩形形状。布局通过添加一或多个虚设主动区域图案并且通过将至少一个图案改变为矩形图案来修改。根据包括主动区域图案及虚设主动区域图案的修改布局形成基部鳍结构。根据第一鳍切割图案的修改布局及第二鳍切割图案的修改布局的一个移除基部鳍结构的部分。
基本信息
专利标题 ：
制造半导体装置的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110838470A
申请号 ：
CN201910760089.4
公开（公告）日 ：
2020-02-25
申请日 ：
2019-08-16
授权号 ：
CN110838470B
授权日 ：
2022-04-01
发明人 ：
谢启文洪健平张岐康傅士奇陈桂顺
申请人 ：
台湾积体电路制造股份有限公司
申请人地址 ：
中国台湾新竹市新竹科学工业园区力行六路八号
代理机构 ：
北京律诚同业知识产权代理有限公司
代理人 ：
徐金国
优先权 ：
CN201910760089.4
主分类号 ：
H01L21/8234
IPC分类号 ：
H01L21/8234 H01L27/02 H01L27/088 H01L29/78
相关图片
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/70
由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L21/77
在公共衬底中或上面形成的由许多固态元件或集成电路组成的器件的制造或处理
H01L21/78
把衬底连续地分成多个独立的器件
H01L21/82
制造器件，例如每一个由许多元件组成的集成电路
H01L21/822
衬底是采用硅工艺的半导体的
H01L21/8232
场效应工艺
H01L21/8234
MIS工艺
法律状态
2022-04-01 ：
授权
2020-03-20 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 21/8234
申请日 : 20190816
申请日 : 20190816
2020-02-25 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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