一种非接触卡芯片测试装置及非接触卡芯片
授权
摘要
本申请公开了一种非接触卡芯片测试装置及非接触卡芯片，该测试装置包括：通用数字测试机台、射频信号发生器和接触式双向数字通信接口，通用数字测试机台与射频信号发生器连接，通用数字测试机台与接触式双向数字通信接口通信连接，射频信号发生器与射频接口通信连接。本申请的非接触卡芯片中包括射频接口和接触式双向数字通信接口，射频接口用于获取电源信号和时钟信号，接触式双向数字通信接口用于传输基带信号。通过本申请能够提高芯片测试效率，提高测试过程中的抗干扰能力以及降低测试成本。
基本信息
专利标题 ：
一种非接触卡芯片测试装置及非接触卡芯片
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920836854.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-06-04
授权号 ：
CN209659316U
授权日 ：
2019-11-19
发明人 ：
王光春曾为民李向宏
申请人 ：
山东华翼微电子技术股份有限公司
申请人地址 ：
山东省济南市高新区新泺大街1768号齐鲁软件园大厦B座B-302室
代理机构 ：
济南诚智商标专利事务所有限公司
代理人 ：
王汝银
优先权 ：
CN201920836854.1
主分类号 ：
H04B17/00
IPC分类号 ：
H04B17/00 G01R31/28 G06K19/077
法律状态
2019-11-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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