半导体激光芯片低温Bar条测试机

专利权的终止

摘要

本实用新型公开了半导体激光芯片低温Bar条测试机，包括机箱、温控箱和激光打标台，机箱的顶端固定安装有温控箱，温控箱与机箱之间活动安装有转盘，温控箱的顶端中部固定安装有驱动电机，驱动电机的底端传动连接有转轴，转轴贯穿于温控箱内，并与转盘卡接，温控箱的顶端边侧活动安装有六个箱门，本实用新型，在工作时，工作人员可启动并控制驱动电机运行，从而使得转轴带动转盘进行转动，使得bar条逐依接触触头，从而控制激光打标台进行激光雕刻工作，在该过程中，可通过控制温控箱来尝试不同温度下bar条的工作效果，从而在测试bar条工作状态的同时，找到最适合相应bar条的工作温度，以方便调控bar条在工作中发挥出最大效率。

基本信息

专利标题：

半导体激光芯片低温Bar条测试机

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921540612.4

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-09-17

授权号：

CN210513626U

授权日：

2020-05-12

发明人：

杜海洋

申请人：

河北圣源光电股份有限公司

申请人地址：

河北省石家庄市鹿泉经济开发区昌盛大街21号

代理机构：

北京德崇智捷知识产权代理有限公司

代理人：

贺征华

优先权：

CN201921540612.4

主分类号：

G01M11/00

IPC分类号：

G01M11/00