一种芯片测试用基座
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摘要
本实用新型实施例公开了一种芯片测试用基座。本实用新型的芯片测试用基座，包括：基座本体，基座本体的顶面上设有矩形凹槽，基座本体在矩形凹槽处设有两个凸台，凸台的顶端凸出于基座本体的顶面，凸台的顶端的侧面为斜面，凸台的顶部设有定位孔，基座本体在矩形凹槽的四个内角处设有真空管，真空管的顶端在矩形凹槽内形成开口。本实用新型的芯片测试用基座，芯片的两端分别搁置在基座本体上的两个凸台上，从而防止了异物与芯片的接触；且在矩形凹槽的四个内角处设有与抽气设备连接的真空管，通过抽气设备将矩形凹槽内的异物抽取，方便对基座本体的清理，保证后续芯片测试的顺利进行。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片测试用基座
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921705226.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-12
授权号 ：
CN210894614U
授权日 ：
2020-06-30
发明人 ：
程丽莎王加大吴继春
申请人 ：
紫光宏茂微电子（上海）有限公司
申请人地址 ：
上海市青浦区工业园区崧泽大道9688号
代理机构 ：
上海市嘉华律师事务所
代理人 ：
黄琮
优先权 ：
CN201921705226.6
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R31/54 G01R1/04 B08B5/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-06-30 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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