一种板载芯片测试辅助装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种板载芯片测试辅助装置，其包括有芯片治具和外走线板，芯片治具上开设有可罩于板载芯片顶部的限位固定口，限位固定口的内侧壁穿设有多个金属触点，金属触点与板载芯片的引脚一一对应，外走线板的第一端位于芯片治具内，且多个金属触点分别电性连接于外走线板的第一端，外走线板的第二端向芯片治具之外延伸，且外走线板的第二端电性连接有多针插接件，当芯片治具的限位固定口罩设于板载芯片的顶部时，多个金属触点分别抵接于板载芯片的多个引脚，借由金属触点、外走线板和多针插接件将板载芯片与外部测试设备电性连接。本实用新型无需改变芯片与电路板的原始连接状态，可避免损伤芯片，且能够与板载芯片引脚可靠连接。
基本信息
专利标题 ：
一种板载芯片测试辅助装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921895468.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-05
授权号 ：
CN211426701U
授权日 ：
2020-09-04
发明人 ：
苏永东
申请人 ：
新嘉数码电子（深圳）有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区福永街道白石厦社区东区永丰一路4号201
代理机构 ：
深圳余梅专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
高真辉
优先权 ：
CN201921895468.6
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-09-04 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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