一种天线集成场效应晶体管的太赫兹探测器
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摘要

本实用新型涉及一种天线集成场效应晶体管的太赫兹探测器,属于太赫兹探测技术领域。包括天线,所述天线与场效应晶体管集成设置,所述天线的三个端口分别作为场效应晶体管的三个电极:源电极、栅电极和漏电极,所述三个端口与三个电极结构吻合;所述天线的三个端口分别与衬底电性连接。所述天线的三个端口分别引出源极引线电极、栅极引线电极和漏极引线电极,分别与天线的三个端口对应一体成型。本申请中将太赫兹天线与场效应晶体管集成设计,直接利用天线的三端作为场效应晶体管的三极,节约了生产成本。在天线的三端分别引出引线电极,实现对太赫兹波的有效收集,增强场效应晶体管与太赫兹波的有效耦合,提高了器件的探测性能。

基本信息
专利标题 :
一种天线集成场效应晶体管的太赫兹探测器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922300681.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-19
授权号 :
CN211205522U
授权日 :
2020-08-07
发明人 :
张凯沈文董卓沈兴华
申请人 :
江苏盖姆纳米材料科技有限公司
申请人地址 :
江苏省无锡市江阴市临港新城区镇澄路3433号
代理机构 :
江阴市轻舟专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
孙燕波
优先权 :
CN201922300681.4
主分类号 :
G01J1/42
IPC分类号 :
G01J1/42  G01J1/44  H01L23/66  H01L29/78  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法,例如照相的曝光表
G01J1/42
采用电辐射检测器
法律状态
2020-08-07 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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