一种芯片的手动测试装置
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摘要

本实用新型公开了一种芯片的手动测试装置,属于芯片测试技术领域。移动载台固定在工作台上,高度块固定在所述移动载台上,载物台位于高度块上,载物台上方设有探针卡安装架,所述探针卡安装架固定在Z向微调滑块上,所述Z向微调滑块滑动连接在Z向微调滑轨上,Z向微调滑轨位于Z向滑块上,所述Z向滑块滑动连接于Z向导轨上,Z向导轨位于Z向支架上,所述Z向支架上还设有千分尺,千分尺连接Z向微调滑块,Z向滑块底部连接限位板,所述限位板底部设有Z向限位柱,凸轮固定在旋转驱动杆上,所述旋转驱动杆两端贯穿所述Z向支架,所述旋转驱动杆两端连接Z向升降摇杆。本实用新型的有益效果是:结构简易,容易操作,成本低。

基本信息
专利标题 :
一种芯片的手动测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922332539.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-23
授权号 :
CN211402635U
授权日 :
2020-09-01
发明人 :
王世巍
申请人 :
大连火蓝电子科技有限公司
申请人地址 :
辽宁省大连市保税区宜华大厦
代理机构 :
大连智高专利事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
赵志雄
优先权 :
CN201922332539.8
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  G01R1/02  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-09-01 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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