一种晶元芯片检测装置
授权
摘要
本实用新型涉及芯片检测设备技术领域，尤其涉及一种晶元芯片检测装置，包括芯片上料工位、检测工位和芯片下料工位，检测工位包括工作台，工作台的一端设置有支架，支架的上端设置有检测口，检测口的正下方设置有载具和驱动载具移动的第一驱动机构，载具的上端设置有安置槽，工作台的上端设置有移动支架和驱动移动支架移动的第二驱动机构，移动支架的上端设置有第一滑座和驱动第一滑座升降的第三驱动机构，第一滑座设置有CCD检测仪，工作台上端还设置有显示器；本实用新型结构简单，操作方便，提高工作效率，降低劳动力的消耗，提高了产品品质，提高劳动效率。
基本信息
专利标题 ：
一种晶元芯片检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922440145.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-30
授权号 ：
CN211437088U
授权日 ：
2020-09-08
发明人 ：
冯海韵
申请人 ：
东莞市云芯电子科技有限公司
申请人地址 ：
广东省东莞市塘厦镇大坪社区沙苑一路8号B栋四楼
代理机构 ：
东莞科强知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
肖冬
优先权 ：
CN201922440145.4
主分类号 ：
B07C5/34
IPC分类号 ：
B07C5/34
IPC结构图谱
B
B部——作业；运输
B07
将固体从固体中分离；分选
B07C
邮件分拣；单件物品的分选，或适于一件一件地分选的散装材料的分选，如拣选
B07C5/00
按照物品或材料的特性或特点分选，例如用检测或测量这些特性或特点的装置进行控制；用手动装置，例如开关，来分选
B07C5/34
根据其他特殊性质来分选
法律状态
2020-09-08 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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