本发明涉及一种半导体芯片检测装置，尤其涉及一种半导体芯片平整度检测装置。本发明的技术问题是：提供一种可方便检测、可防止损坏半导体芯片平整度检测装置。本发明的技术实施方案为：一种半导体芯片平整度检测装置，包括有工作台、收集框、竖板、顶板、第一安装板等；工作台上嵌有收集框，收集框两侧的工作台上均设置有竖板，两个竖板之间设置有顶板，工作台上远离收集框的一侧连接有第一安装板。本发明通过移动限位机构、平整度测试机构和引脚测试机构的配合，可方便对医疗芯片的厚度和引脚进行检测，不需用户持卡尺对半导体的厚度与引脚进行平整度测量与评定，如此可方便对医疗芯片进行检测，且可防止医疗芯片损坏。