用于数模转换芯片的测试装置
实质审查的生效
摘要
本发明涉及电路技术领域，提供了一种用于数模转换芯片的测试装置，利用处理单元提供的标准测试码，通过具有待测D/A芯片的采样放大单元进行数模转换得到可表征任意两个相邻标准测试码转换后测试电压间差值的检测值；以及利用具有基准D/A芯片的基准放大单元对标准测试码进行数模转换得到可表征前述两个相邻标准测试码转换后基准电压间差值的参考值；再通过比较单元根据该检测值与该参考值比较生成检测信号，利用处理单元根据一组前述检测信号计算或者获得待测D/A芯片的一组静态参数向量，并根据该一组静态参数向量的变化量与预设误差范围的比较结果判断该待测D/A芯片的数模转换功能是否正常。由此可有效缩短数模转换芯片的测试时间。
基本信息
专利标题 ：
用于数模转换芯片的测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114553225A
申请号 ：
CN202011333609.2
公开（公告）日 ：
2022-05-27
申请日 ：
2020-11-24
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
张恭铭邴春秋
申请人 ：
圣邦微电子（北京）股份有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区西三环北路87号13层3-1301
代理机构 ：
北京成创同维知识产权代理有限公司
代理人 ：
蔡纯
优先权 ：
CN202011333609.2
主分类号 ：
H03M1/10
IPC分类号 ：
H03M1/10
法律状态
2022-06-14 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H03M 1/10
申请日 : 20201124
申请日 : 20201124
2022-05-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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