一种芯片自动连接测试设备
授权
摘要
本实用新型属于芯片测试设备技术领域，尤其为一种芯片自动连接测试设备，包括滑台，所述滑台的顶部焊接固定有印刷电路板，所述印刷电路板上开设有滑孔，所述滑孔内滑动安装有推板，所述滑台上开设有腔室，所述腔室的顶部内壁上开设有圆孔，所述圆孔和滑孔相连通，所述圆孔内滑动安装有推杆，所述推杆贯穿圆孔，且推杆的顶端和推板的底部焊接固定在一起，所述圆孔的内壁上焊接固定有四个滑块，所述推杆上开设有四个滑槽，四个滑块相互靠近的一端分别和对应的滑槽的内壁滑动连接，所述推杆上固定套设有环形块。本实用新型操作简单，使用方便，能够轻松的将芯片从印刷电路板上取下，故障率低，提高了设备的检测效率。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片自动连接测试设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020120967.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-01-19
授权号 ：
CN211979119U
授权日 ：
2020-11-20
发明人 ：
王淑凤
申请人 ：
伍煜杰
申请人地址 ：
江西省宜春市高安市碧落路185号5栋106室
代理机构 ：
南昌金轩知识产权代理有限公司
代理人 ：
李楠
优先权 ：
CN202020120967.4
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-11-20 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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