本实用新型公开了一种集成电路板生产用残次品测试装置，包括装置主体、万用表、连接探针、导线和连接夹，所述装置主体的下侧固定有工作主体，且工作主体与装置主体的连接处通过连接销轴与活动主体相连接，所述活动主体上开设有第一滑槽，且第一滑槽的内部连接有限位块，所述限位块的内侧固定有滑动杆，且限位块的外侧安装后第一螺栓，所述滑动杆上开设有第二滑槽，且第二滑槽的内部连接有滑动块，所述滑动块的内部固定有连接探针。该集成电路板生产用残次品测试装置，可以改变连接探针的工作位置，使连接探针能够定点定位工作，从而方便对成批的集成电路板进行测试工作，既能够保证集成电路板的测试效率，又能够提高该测试装置的使用效率。