本实用新型公开了一种适用于芯片的测试治具，包括基座，所述基座的上部开设有芯片槽，所述芯片槽的左右两侧均设有销孔，所述销孔设有配合连接的销钉，所述基座上设有第一感应槽，其设置于芯片槽的后侧并和芯片槽连接，所述基座上设有第二感应槽，其设置于芯片槽的前侧并和芯片槽连接，所述基座的中间部位设有螺孔。本实用新型的有益效果是：该治具是一种全自动、高精度的检测治具，便于芯片在检测治具中抓取、放置，且放置位置精准，不会出现压伤、折弯、折断芯片的引脚，提高了芯片的检测效率，减少废件产生，且该检测治具结构简单，便于生产。