一种用于快速测试漏电LED芯片漏电点的系统

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摘要

本实用新型公开了一种用于快速测试漏电LED芯片漏电点的系统，包括电源、用于放置漏电LED芯片的测试基板、用于喷涂在漏电LED芯片上的变色油墨、与电源连接并对漏电LED芯片通入反向电压的点测设备，所述变色油墨在不同的温度下会显示出不同的颜色；漏电LED芯片通入反向电压后，其漏电点的颜色与非漏电点的颜色不同。本实用新型用于快速测试漏电LED芯片漏电点的系统，结构简单，成本低，可快速检测出漏电LED芯片的漏电点位置。

基本信息

专利标题：

一种用于快速测试漏电LED芯片漏电点的系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020595168.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-04-20

授权号：

CN211788923U

授权日：

2020-10-27

发明人：

李进温俊杰赵旭林周欢

申请人：

佛山市国星半导体技术有限公司

申请人地址：

广东省佛山市南海区狮山镇罗村朗沙广东新光源产业基地内光明大道18号

代理机构：

广州三环专利商标代理有限公司

代理人：

胡枫

优先权：

CN202020595168.2

主分类号：

H01L21/66

IPC分类号：

H01L21/66