一种半导体芯片封装结构
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摘要

本实用新型公开了一种半导体芯片封装结构,包括下模槽和上盖板,下模槽的四角均一体成型有装配槽,装配槽内均固定安装有液压杆,且装配槽的中部一体成型有支撑壁,液压杆的上端分别固定安装于上盖板的四角,支撑壁的上表面均嵌入有电热条,且支撑壁的内部设有固定安装于下模槽中部的主吸附孔和副吸附孔,该封装过程全过程不对芯片主体进行施压,热烫成型的包装内封存有无尘空气,避免了真空负压挤压芯片,造成芯片变形可能性的同时,避免包装泄露后,包装内大量吸入外界空气导致包装内芯片必定被污染的问题,改包装破裂后短时间内为内部气体外泄,因此能够减缓灰尘混入包装内的速度,从而给工作人员处理包装破裂的芯片争取了处理时间。

基本信息
专利标题 :
一种半导体芯片封装结构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021649280.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-08-11
授权号 :
CN213304068U
授权日 :
2021-05-28
发明人 :
不公告发明人
申请人 :
西安市泰润电子科技有限公司
申请人地址 :
陕西省西安市高新区科技路78号铂悦1幢11718室
代理机构 :
重庆创新专利商标代理有限公司
代理人 :
沈红星
优先权 :
CN202021649280.6
主分类号 :
H01L21/56
IPC分类号 :
H01L21/56  
相关图片
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/02
半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21/04
至少具有一个跃变势垒或表面势垒的器件,例如PN结、耗尽层、载体集结层
H01L21/50
应用H01L21/06至H01L21/326中的任一小组都不包含的方法或设备组装半导体器件的
H01L21/56
封装,例如密封层、涂层
法律状态
2021-05-28 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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