本实用新型涉及充电设备领域，且公开了一种芯片测试座，包括测试座本体，所述测试座本体的上端设置有支撑板，所述支撑板的外表面设置有竖向连接口，所述支撑板的一侧设置有固定结构，所述固定结构包括固定轴、转动管、上连接板、弹簧、下连接板、拉动板和限位块，所述支撑板的一侧设置有防尘外壳，所述防尘外壳的一侧外表面设置有竖向连接条，所述防尘外壳的下端设置有横向连接条。该芯片测试座，具备较为灵活方便的完成对芯片在测试座上的压紧固定，同时能够满足对一定范围大小或不同形状的芯片进行测试的需求，解决了测试座在不使用时长时间暴露于空气中沾染灰尘的问题，从而在芯片测试领域带来更好的使用前景。