本实用新型公开了一种芯片晶圆隐裂检测装置，包括本体，在所述本体的下端固定安装有支撑脚，在所述本体的一侧安装有活动进料门，所述进料门为对开式结构，在所述进料门上固定安装有门把手，在所述本体前后两端安装有隔光玻璃，在所述本体的上端固定安装有控制板，所述控制板设有数显屏和可活动控制按钮。当在对芯片圆晶进行隐裂检测时，转动电机转动带动内部的检测部件进行活动式检测，同时在本体上端的前后两端固定安装隔光玻璃，可有效的避免检测过程中强光对外界造成光污染，使得工作人员受到伤害。