离子注入装置及离子注入方法
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摘要

本申请公开了一种离子注入装置和离子注入方法。该离子注入装置包括:反应腔室;气体供应源,连接至所述反应腔室,向所述反应腔室内通入待电离气体;承载台,位于所述反应腔室底部,用于承载晶片;第一电极,位于所述承载台上,连接第一电源,所述晶片位于所述第一电极上;第二电极,位于所述晶片上方,连接第二电源,与所述第一电极之间产生离子束;磁场产生体,位于所述第一电极或所述承载台之上,用于在所述晶片周边产生磁场,通过调节所述磁场产生体产生的磁场大小来改变所述离子束照射在所述晶片上的角度。从而在对具有通道孔的晶片进行离子注入时,可以使离子束直接沿倾斜角度注入底部而不损伤侧壁。

基本信息
专利标题 :
离子注入装置及离子注入方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112885688A
申请号 :
CN202110028004.0
公开(公告)日 :
2021-06-01
申请日 :
2021-01-11
授权号 :
CN112885688B
授权日 :
2022-04-22
发明人 :
刘小辉於成星张和周静兰刘修忠沈保家李军辉
申请人 :
长江存储科技有限责任公司
申请人地址 :
湖北省武汉市武汉东湖新技术开发区未来三路88号
代理机构 :
北京成创同维知识产权代理有限公司
代理人 :
蔡纯
优先权 :
CN202110028004.0
主分类号 :
H01J37/317
IPC分类号 :
H01J37/317  H01J37/32  H01L21/265  
相关图片
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01J
放电管或放电灯
H01J37/00
有把物质或材料引入使受到放电作用的结构的电子管,例如为了对其检验或加工的
H01J37/30
物体局部处理用的电子束管或离子束管
H01J37/317
用于改变物体的特性或在其上加上薄层的,如离子注入
法律状态
2022-04-22 :
授权
2021-06-18 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01J 37/317
申请日 : 20210111
2021-06-01 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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