一种电光晶体薄膜、制备方法及电子元器件
授权
摘要
本申请公开一种电光晶体薄膜、制备方法及电子元器件,包括:由电光晶体基片工艺面向电光晶体基片内目标深度掺杂重质量离子;在电光晶体基片工艺面制备与光波导结构相同的掩模;由电光晶体基片工艺面向电光晶体基片内刻蚀,电光晶体基片内刻蚀后剩余的掺杂有重质量离子部分为光波导;填充电光晶体基片工艺面内被刻蚀掉区域,填充材料的折射率小于光波导的折射率,其中,填充于光波导间隙内的填充材料形成波导包覆层,由于在对电光晶体薄膜基片进行刻蚀处理之前,预先在电光晶体薄膜基片进行掺杂处理,使电光晶体薄膜基片内形成晶格损伤,从而可以提高刻蚀效率,避免了直接对电光晶体薄膜基片刻蚀处理会影响电光晶体薄膜层性能的问题。
基本信息
专利标题 :
一种电光晶体薄膜、制备方法及电子元器件
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112764244A
申请号 :
CN202110103546.X
公开(公告)日 :
2021-05-07
申请日 :
2021-01-26
授权号 :
CN112764244B
授权日 :
2022-05-17
发明人 :
王金翠张秀全刘桂银张涛连坤刘阿龙杨超
申请人 :
济南晶正电子科技有限公司
申请人地址 :
山东省济南市高新区港兴三路北段1号济南药谷研发平台1号楼B1806
代理机构 :
北京弘权知识产权代理有限公司
代理人 :
逯长明
优先权 :
CN202110103546.X
主分类号 :
G02F1/035
IPC分类号 :
G02F1/035 G02F1/03 G02B6/136 G02B6/134 G02B6/13 G02B6/12
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02F
用于控制光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置,例如转换、选通、调制或解调,上述器件或装置的光学操作是通过改变器件或装置的介质的光学性质来修改的;用于上述操作的技术或工艺;变频;非线性光学;光学逻辑元件;光学模拟/数字转换器
G02F1/00
控制来自独立光源的光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置,例如,转换、选通或调制;非线性光学
G02F1/01
对强度、相位、偏振或颜色的控制
G02F1/03
基于陶瓷或电—光晶体的,例如,显示泡克耳斯或科尔效应的
G02F1/035
在光波导结构中的
法律状态
2022-05-17 :
授权
2021-05-25 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G02F 1/035
申请日 : 20210126
申请日 : 20210126
2021-05-07 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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