一种升降针机构、控制方法和半导体工艺设备
实质审查的生效
摘要

本发明实施例提供了一种升降针机构、控制方法和半导体工艺设备,所述升降针机构包括:用于支撑晶圆的顶针、用于控制所述顶针升降的升降结构,以及设于所述升降结构内用于检测所述顶针受到的压力的压力传感器;所述方法包括通过获取所述顶针的升起过程中所述压力传感器检测的实际压力值;根据所述实际压力值和预设压力参考信息,控制所述升降结构将所述顶针升起或停止升起。本发明实施例解决了目前升降针机构无法判断晶圆在解吸附流程后是否发生了粘片现象的问题,实现了在解吸附流程后,在线判断晶圆是否发生了粘片,防止了在晶圆发生粘片的情况下,顶针盲目升起而导致晶圆偏移甚至腔室破片的现象。

基本信息
专利标题 :
一种升降针机构、控制方法和半导体工艺设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114420625A
申请号 :
CN202111572096.5
公开(公告)日 :
2022-04-29
申请日 :
2021-12-21
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
李凌峰张涛王京张郢赵晋荣
申请人 :
西安北方华创微电子装备有限公司;北京北方华创微电子装备有限公司
申请人地址 :
陕西省西安市高新区锦业一路11号国家服务外包示范基地D座4层
代理机构 :
北京润泽恒知识产权代理有限公司
代理人 :
苏培华
优先权 :
CN202111572096.5
主分类号 :
H01L21/687
IPC分类号 :
H01L21/687  H01L21/67  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/67
专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21/683
用于支承或夹紧的
H01L21/687
使用机械装置的,例如卡盘、夹具或夹子
法律状态
2022-05-20 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 21/687
申请日 : 20211221
2022-04-29 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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