一种晶片清洗工艺
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种晶片清洗工艺,旨在采用喷淋的方式来清洗晶片,使晶片依次经过碱洗、碱洗、酸洗和氧化,依次除去晶片表面的大颗粒杂质、小颗粒杂质和金属杂质,最后再形成氧化层来保护晶片表面,其技术方案:一种晶片清洗工艺,包括如下步骤:步骤1:将晶片布置成水平姿态并使其水平旋转;步骤2:依次使用第一碱液、第二碱液、酸液和氧化剂溶液这4种药液对旋转中的晶片进行喷淋;所述第一碱液为含有氢氧化钠乙醇水溶液,所述第二碱液为氢氧化铵水溶液;步骤3:使用热氮气对晶片表面进行吹扫,属于半导体晶片加工技术领域。
基本信息
专利标题 :
一种晶片清洗工艺
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114496729A
申请号 :
CN202111655476.5
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2021-12-30
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
郑金龙周铁军马金峰詹晨晨资云玲
申请人 :
广东先导微电子科技有限公司
申请人地址 :
广东省清远市高新区创兴三路16号A车间
代理机构 :
清远市清城区诺誉知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
龚元元
优先权 :
CN202111655476.5
主分类号 :
H01L21/02
IPC分类号 :
H01L21/02
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/02
半导体器件或其部件的制造或处理
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 21/02
申请日 : 20211230
申请日 : 20211230
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载