一种半导体检测装置
授权
摘要
本实用新型涉及半导体技术领域，具体是一种半导体检测装置，包括工作台，所述工作台的底部两端处均固定连接有支撑板，所述工作台的顶部两侧处均固定连接有液压缸，且两个液压缸的顶部固定连接有同一个顶板，所述顶板的底部两端处均固定连接有连接板，且两个连接板的相对一面固定连接有同一个安装板，所述安装板的顶部固定安装有多个灯泡，所述安装板的底部固定安装有多个与灯泡相对应的正电板，所述正电板与灯泡之间电性连接，所述工作台的顶部设置有检测框，且检测框的底部内壁固定连接有多个挡板，多个所述挡板将检测框分隔成多个检测腔，且检测腔与正电板相对应。本实用新型具有增加半导体检测效率的优点。
基本信息
专利标题 ：
一种半导体检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122103017.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-09-02
授权号 ：
CN216160766U
授权日 ：
2022-04-01
发明人 ：
王垚森
申请人 ：
苏州斯迈欧电子有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市工业园区金鸡湖大道99号纳米城20幢422
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202122103017.8
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 G01R1/02 G01R1/04 B25H1/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-04-01 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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