可寻址测试芯片用开关电路及高密度可寻址测试芯片
授权
摘要
本实用新型提供的可寻址测试芯片用开关电路，包括若干待测器件和若干开关，能通过控制所述开关的通断状态以选中指定的待测器件连通测试通路；相邻两个所述待测器件共享位于其中一个待测器件同一端的激励开关和感应开关；所述待测器件、其与相邻待测器件所共享的所述感应开关之间连接有中间开关。本实用新型的开关电路能够在测量选中的器件时，感应端仅有连接选中的待测器件的一端导通而另一端关断，解决了因共享开关而引入的绕线电阻误差，优化了共享电路在小电阻测量应用中精确度。本实用新型还提供的高密度可寻址测试芯片因具有本实用新型的可寻址测试芯片用开关电路而具有相应优势。
基本信息
专利标题 ：
可寻址测试芯片用开关电路及高密度可寻址测试芯片
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122335782.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-09-26
授权号 ：
CN216718594U
授权日 ：
2022-06-10
发明人 ：
杨璐丹尤炎潘伟伟
申请人 ：
杭州广立微电子股份有限公司
申请人地址 ：
浙江省杭州市西湖区西斗门路3号天堂软件园A幢15楼F1座
代理机构 ：
江苏坤象律师事务所
代理人 ：
赵新民
优先权 ：
CN202122335782.2
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 H03K17/687
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-06-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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