本实用新型公开了一种用于半导体封装器件测试的多功能平台，包括测试仪主体和翻转机构，测试仪主体的底端设置有放置平台，翻转机构由活动轴、固定板、两个切面和弧面槽组成，固定板固定连接于放置平台的顶端，固定板的一侧开设有活动槽，活动轴活动设置于活动槽的内壁，两个切面对称开设于活动轴的外壁，两个弧面槽对称开设于活动槽的内壁。本实用新型利用活动轴、固定板、活动槽、两个切面和弧面槽的设置，通过两个切面和弧面槽的配合，同时活动轴可在两个弧面槽内转动进行翻转，使得活动轴翻转后，通过两个切面卡入活动槽的非弧面槽位置，保证了每次夹持机构翻转后保证水平状态，从而提高了测试质量。