本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体为一种芯片测试用温度控制装置。本实用新型，包括温控器和橡胶按钮，所述橡胶按钮安装在温控器的表面，还包括限位结构，所述限位结构设置在温控器的侧壁，所述限位结构包括连接框，所述连接框的表面和温控器固定连接，所述连接框的内壁滑动连接有滑杆，所述滑杆的内部转动连接有圆杆，所述圆杆的表面固定连接有平板，所述平板的内部滑动插设有圆条，所述圆条的表面固定连接有连接板，所述连接板和平板之间固定连接有第一弹簧，所述圆条远离连接板的一端固定连接有限位板。解决了操控表或者数据表若直接放置在机器上在工作人员来回走动的过程中容易被风或者衣脚带走，从而导致丢失的问题。