一种晶圆级掩模版及电镀工艺
实质审查的生效
摘要

一种尺寸大于晶圆片的晶圆级掩模版,其具有器件图形区、包围器件图形区且直径小于晶圆片的环状保护区,及设于环状保护区外围用于将掩模版固设于光刻机曝光光路上的支撑区;使用该掩模版的电镀工艺为:在晶圆片表面旋涂负性或正性光阻,洗边后使用晶圆级掩模版进行曝光、显影,在环状保护区下方形成包围器件图形层且直径小于晶圆片的环状光阻层;将晶圆片转移至电镀机台,电镀机台的密封压环压接于环状光阻层后,向器件图形层通入电镀液,电镀完成后排出电镀液、移除光阻层,获得具有器件电镀层的晶圆片,本工艺利用晶圆级掩模版曝光显影形成的环状光阻层与密封压环紧密接合,有效避免晶圆片边缘漏出电镀液对后续制程造成影响,提升产品良率。

基本信息
专利标题 :
一种晶圆级掩模版及电镀工艺
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114371595A
申请号 :
CN202210000261.8
公开(公告)日 :
2022-04-19
申请日 :
2022-01-03
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
武吉龙邱宗德郭佳衢起江
申请人 :
厦门市三安集成电路有限公司
申请人地址 :
福建省厦门市同安区洪塘镇民安大道753-799号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202210000261.8
主分类号 :
G03F1/00
IPC分类号 :
G03F1/00  G03F1/38  C25D7/12  C25D17/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G03
摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F
图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1/00
用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
法律状态
2022-05-06 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G03F 1/00
申请日 : 20220103
2022-04-19 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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