半导体结构、半导体器件及其制备方法
实质审查的生效
摘要

本发明涉及一种半导体结构、半导体器件及其制备方法。半导体结构的制备方法包括:提供衬底;于衬底内形成初始凹槽,初始凹槽内具有尖锐拐角;对初始凹槽进行平滑处理,以去除尖锐拐角,得到具有光滑内壁的沟槽。在上述半导体结构的制备方法中,通过将初始凹槽中的尖锐拐角进行平滑处理,可以去除所有尖锐拐角,形成具有光滑内壁的沟槽,从而可以防止电场线在尖锐拐角处集中,避免出现局部电场强度过高从而击穿介电层的情况,提高半导体结构的可靠性。并且,与尖锐拐角相比,光滑的沟槽内壁对电流通路具有明显的扩展作用,降低了导通电阻。

基本信息
专利标题 :
半导体结构、半导体器件及其制备方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114334621A
申请号 :
CN202210004678.1
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2022-01-04
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
魏峰相奇
申请人 :
广东芯粤能半导体有限公司
申请人地址 :
广东省广州市南沙区环市大道南33号
代理机构 :
华进联合专利商标代理有限公司
代理人 :
史治法
优先权 :
CN202210004678.1
主分类号 :
H01L21/04
IPC分类号 :
H01L21/04  H01L21/28  H01L21/306  H01L21/308  H01L29/78  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/02
半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21/04
至少具有一个跃变势垒或表面势垒的器件,例如PN结、耗尽层、载体集结层
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 21/04
申请日 : 20220104
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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