一种自对准的氧化镓结势垒肖特基二极管及其制造方法
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种自对准的氧化镓结势垒肖特基二极管及其制造方法,涉及氧化镓半导体及其制造技术,针对氧化镓结势垒肖特基二极管制造时光刻对准次数多等缺陷提出本方案。包括三维鳍式沟槽结构的制作步骤;PN结的制作步骤和电极的制作步骤;在N型氧化镓漂移层上表面铺设图形化的半牺牲肖特基金属层,利用所述半牺牲肖特基金属层作为掩膜对N型氧化镓漂移层进行刻蚀,制作出三维鳍式沟槽结构。优点在于,先制备二极管中的半牺牲肖特基金属层,直接采用该半牺牲肖特基金属层做为刻蚀氧化镓的掩膜。使半牺牲肖特基金属层与氧化镓肋条形成自对准的肖特基接触,直接规避了在肋条顶部去除P型氧化物半导体层及铺设肖特基金属层时必要的光刻对准工作。

基本信息
专利标题 :
一种自对准的氧化镓结势垒肖特基二极管及其制造方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114496803A
申请号 :
CN202210044122.5
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2022-01-14
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
卢星徐童龄王钢陈梓敏
申请人 :
中山大学
申请人地址 :
广东省广州市新港西路135号
代理机构 :
广州海心联合专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
冼俊鹏
优先权 :
CN202210044122.5
主分类号 :
H01L21/34
IPC分类号 :
H01L21/34  H01L29/872  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/02
半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21/04
至少具有一个跃变势垒或表面势垒的器件,例如PN结、耗尽层、载体集结层
H01L21/34
具有H01L21/06,H01L21/16及H01L21/18各组不包含的或有或无杂质,例如掺杂材料的半导体的器件
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 21/34
申请日 : 20220114
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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