半导体器件的制作方法、半导体器件以及存储系统
实质审查的生效
摘要

本申请提供了一种半导体器件的制作方法、半导体器件以及存储系统,该方法包括:在衬底上形成堆叠结构以及介质层,堆叠结构的一端具有台阶区域,介质层覆盖堆叠结构的裸露表面;去除部分介质层和部分台阶区域,在介质层中以及台阶区域中形成接触开口,接触开口至少使得部分的牺牲层裸露;去除接触开口两侧的各绝缘介质层的部分以及介质层的部分,以在接触开口的侧壁上形成多个凹槽;在各凹槽中对应地形成氧化部,氧化部封住凹槽;在形成有氧化部的接触开口中填充第一填充材料,得到接触孔。接触孔与牺牲层接触的同时均停在了氧化部上,保证了CT刻蚀的难度较小。

基本信息
专利标题 :
半导体器件的制作方法、半导体器件以及存储系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114446967A
申请号 :
CN202210082185.X
公开(公告)日 :
2022-05-06
申请日 :
2022-01-24
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
孔翠翠张坤张中
申请人 :
长江存储科技有限责任公司
申请人地址 :
湖北省武汉市东湖新技术开发区未来三路88号
代理机构 :
北京康信知识产权代理有限责任公司
代理人 :
霍文娟
优先权 :
CN202210082185.X
主分类号 :
H01L27/115
IPC分类号 :
H01L27/115  H01L27/11582  H01L27/1157  H01L27/11556  H01L27/11524  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27/00
由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27/02
包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27/04
其衬底为半导体的
H01L27/10
在重复结构中包括有多个独立组件的
H01L27/105
包含场效应组件的
H01L27/112
只读存储器结构的
H01L27/115
电动编程只读存储器;其多步骤制造方法
法律状态
2022-05-24 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 27/115
申请日 : 20220124
2022-05-06 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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