半导体器件及其制备方法、存储系统
实质审查的生效
摘要
本申请提供了一种半导体器件及其制备方法、存储系统,涉及半导体芯片技术领域,用于降低制备半导体器件的工艺难度、缩短制备工艺流程,提高制备效率,降低制备成本。所述半导体器件的制备方法包括:提供三维阵列结构;三维阵列结构包括衬底、第一停止层、第二停止层和叠层结构。形成贯穿叠层结构并延伸至衬底的沟道孔。在沟道孔内形成沟道结构。去除衬底和沟道结构延伸至衬底的部分至第一停止层。刻蚀第一停止层及存储功能层延伸至第一停止层的部分至第二停止层,暴露沟道层延伸至第一停止层的部分。形成源极层,源极层与沟道层暴露的部分形成电接触。上述半导体器件应用于三维存储器中,以实现数据的读取和写入操作。
基本信息
专利标题 :
半导体器件及其制备方法、存储系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114284286A
申请号 :
CN202111452422.9
公开(公告)日 :
2022-04-05
申请日 :
2021-12-01
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
伍术李倩肖亮华子群朱宏斌
申请人 :
长江存储科技有限责任公司
申请人地址 :
湖北省武汉市东湖新技术开发区未来三路88号
代理机构 :
北京中博世达专利商标代理有限公司
代理人 :
申健
优先权 :
CN202111452422.9
主分类号 :
H01L27/1157
IPC分类号 :
H01L27/1157 H01L27/11582 H01L27/11575 H01L25/18 H01L21/60
法律状态
2022-04-22 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 27/1157
申请日 : 20211201
申请日 : 20211201
2022-04-05 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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