哈特曼测量装置及其测量方法和晶圆几何参数测量装置
实质审查的生效
摘要
本申请提供了一种哈特曼测量装置及其测量方法和晶圆几何参数测量装置。该哈特曼测量装置包括光源准直部件和哈特曼波前传感器。光源准直部件用于将光源产生的光束准直以形成平行光束,并将平行光束直接或间接射向晶圆的待测表面;哈特曼波前传感器用于接收从晶圆的待测表面反射后的检测光束,并将检测光束转换成多个光点,以根据多个光点和多个光点对应的正入射光点之间的偏移量计算得到待测表面的翘曲度和形状。本申请的技术方案能够降低测量装置的结构复杂性和成本,且保证测量过程中不损伤晶圆的待测表面。
基本信息
专利标题 :
哈特曼测量装置及其测量方法和晶圆几何参数测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114543695A
申请号 :
CN202210118747.1
公开(公告)日 :
2022-05-27
申请日 :
2022-02-08
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
陈建强曾安唐寿鸿
申请人 :
南京中安半导体设备有限责任公司
申请人地址 :
江苏省南京市自由贸易试验区南京片区研创园团结路99号孵鹰大厦1836室
代理机构 :
北京布瑞知识产权代理有限公司
代理人 :
杨丹
优先权 :
CN202210118747.1
主分类号 :
G01B11/16
IPC分类号 :
G01B11/16 G01B11/24
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/16
用于计量固体的变形,例如光学应变仪
法律状态
2022-06-14 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/16
申请日 : 20220208
申请日 : 20220208
2022-05-27 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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