半导体结构及其制造方法
实质审查的生效
摘要

本公开实施例提供一种半导体结构及其制造方法,半导体结构包括:基底;第一电极,第一电极位于基底上,第一电极围成朝向远离基底方向延伸的通孔;第二电极,第二电极至少位于通孔内;电容介质层,电容介质层位于第一电极与第二电极之间,第二电极、电容介质层以及第一电极构成电容结构;晶体管,晶体管位于电容结构上,且晶体管包括沿垂直于基底表面方向间隔排布的第一掺杂区和第二掺杂区,第一掺杂区与第二电极电连接,第一掺杂区和第二掺杂区的掺杂类型为N型或者P型中的一者,且第一掺杂区和第二掺杂区的掺杂类型相同;位线,位线位于晶体管上,且与第二掺杂区电连接。本公开实施例至少有利于提高半导体器件的性能并降低制造工艺难度。

基本信息
专利标题 :
半导体结构及其制造方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114551450A
申请号 :
CN202210174057.8
公开(公告)日 :
2022-05-27
申请日 :
2022-02-24
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
邵光速吴敏敏
申请人 :
长鑫存储技术有限公司
申请人地址 :
安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号
代理机构 :
上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
成丽杰
优先权 :
CN202210174057.8
主分类号 :
H01L27/108
IPC分类号 :
H01L27/108  H01L21/8242  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27/00
由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27/02
包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27/04
其衬底为半导体的
H01L27/10
在重复结构中包括有多个独立组件的
H01L27/105
包含场效应组件的
H01L27/108
动态随机存取存储结构的
法律状态
2022-06-14 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 27/108
申请日 : 20220224
2022-05-27 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332