本发明涉及半导体检测技术领域，且公开了一种适用性强的半导体测试设备，包括镜体和基座，所述镜体的底端设置有基座，所述基座的顶端设置有检测托盘，检测托盘受到晶片重量的下压自动沉，检测托盘下压底端的活塞罐，使得活塞罐内部的清洗液通过喷水管喷洒在检测托盘的内部，直至检测托盘下沉到底端，使得引流管插入排水阀内部，同时检测托盘的另一侧下压底端的联动液压柱，使得联动推杆延展向前推动侧向护板贴靠在检测托盘，同时加压风机同步启动，使得半导体晶片表面残留清洗液在高速气流推动下快速脱落，使得半导体晶片表面无任何残留液体，同时将表面的尘埃同步冲刷干净，从而达到了自动清洁半导体表面。