一种硅基CMOS射频集成电路衬底及其制造方法
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摘要

一种硅基CMOS射频集成电路衬底及其制造方法,该方法可以在一块重掺杂的低电阻率硅片上将CMOS数字集成电路与高品质射频无源器件和电路同时高度集成。本发明所提供的衬底含有重掺杂的低电阻率硅片,在所述重掺杂的低电阻率硅片上划分为a、b两类多个图形化的区域,其中在所述的每个a类区域具有一层图形化的垂直纳米结构的氧化硅,在该垂直纳米结构的氧化硅上面依次覆盖有一层图形化的氧化硅、氮化硅和聚酰亚胺。其制备方法不需高温、高压等苛刻条件,所用设备和工艺非常简单,并且成本低廉,可用于大规模工业生产。

基本信息
专利标题 :
一种硅基CMOS射频集成电路衬底及其制造方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1794453A
申请号 :
CN200510086987.4
公开(公告)日 :
2006-06-28
申请日 :
2005-11-25
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
赵嘉昊朱静
申请人 :
清华大学
申请人地址 :
100084北京市100084-82信箱
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN200510086987.4
主分类号 :
H01L27/092
IPC分类号 :
H01L27/092  H01L27/082  H01L21/8238  H01L21/8222  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27/00
由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27/02
包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27/04
其衬底为半导体的
H01L27/08
只包括有一种半导体组件的
H01L27/085
只包含场效应的组件
H01L27/088
有绝缘栅场效应晶体管的组件
H01L27/092
互补MIS场效应晶体管
法律状态
2008-05-07 :
授权
2006-08-23 :
实质审查的生效
2006-06-28 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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