在半导体装置中形成电容器之存储节点的方法
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
摘要

提供了一种用于在半导体装置中形成电容器之存储节点的方法。此方法包括下述步骤:在半完成之基板上形成层间绝缘层;蚀刻所述层间绝缘层以形成多个第一接触孔;在第一接触孔之侧壁上形成第一绝缘层;形成填充到第一接触孔内之多个存储节点接触塞;在所述存储节点接触塞上以与第一绝缘层不同之蚀刻率形成第二绝缘层;在第二绝缘层上形成第三绝缘层;顺序地蚀刻第三绝缘层及第二绝缘层以形成暴露所述存储节点接触塞之多个第二接触孔;及在每个第二接触孔上形成所述存储节点。

基本信息
专利标题 :
在半导体装置中形成电容器之存储节点的方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1794455A
申请号 :
CN200510117259.5
公开(公告)日 :
2006-06-28
申请日 :
2005-10-31
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
宣俊劦李圣权赵诚允
申请人 :
海力士半导体有限公司
申请人地址 :
韩国京畿道
代理机构 :
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 :
杨红梅
优先权 :
CN200510117259.5
主分类号 :
H01L27/108
IPC分类号 :
H01L27/108  H01L23/522  H01L21/8242  H01L21/768  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27/00
由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27/02
包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27/04
其衬底为半导体的
H01L27/10
在重复结构中包括有多个独立组件的
H01L27/105
包含场效应组件的
H01L27/108
动态随机存取存储结构的
法律状态
2014-11-26 :
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101707601301
IPC(主分类) : H01L 27/108
专利号 : ZL2005101172595
变更事项 : 专利权人
变更前 : 658868N.B.公司
变更后 : 考文森智财N.B.868公司
变更事项 : 地址
变更前 : 加拿大新不伦瑞克省
变更后 : 加拿大新不伦瑞克省
2012-07-11 :
专利申请权、专利权的转移
专利权的转移号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101421715864
IPC(主分类) : H01L 27/108
专利号 : ZL2005101172595
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 海力士半导体有限公司
变更后权利人 : 658868N.B.公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 韩国京畿道
变更后权利人 : 加拿大新不伦瑞克省
登记生效日 : 20120620
2008-10-01 :
授权
2006-08-23 :
实质审查的生效
2006-06-28 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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