插入件、测试托架及半导体测试装置
专利权的终止
摘要
一种插入件，在半导体测试装置内，收容被测试半导体器件(100)，其配置有：框部(520)；支持被测试半导体器件(100)的IC收容部(530)；在能够改变框部(520)以及IC收容部(530)的相对位置的状态下，彼此连接框部(520)以及IC收容部(530)的连接部；在特定期间内把IC收容部(530)引导到与框部(520)对应的相对性规定位置的导向部。
基本信息
专利标题 ：
插入件、测试托架及半导体测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101283283A
申请号 ：
CN200580051804.3
公开（公告）日 ：
2008-10-08
申请日 ：
2005-10-13
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
菅野沙矢香伊藤明彦
申请人 ：
爱德万测试株式会社
申请人地址 ：
日本东京都
代理机构 ：
北京英特普罗知识产权代理有限公司
代理人 ：
齐永红
优先权 ：
CN200580051804.3
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2012-12-12 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101364717620
IPC(主分类) : G01R 31/26
专利号 : ZL2005800518043
申请日 : 20051013
授权公告日 : 20100929
终止日期 : 20111013
号牌文件序号 : 101364717620
IPC(主分类) : G01R 31/26
专利号 : ZL2005800518043
申请日 : 20051013
授权公告日 : 20100929
终止日期 : 20111013
2010-09-29 ：
授权
2008-12-03 ：
实质审查的生效
2008-10-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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