磁存储单元与其制造方法
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摘要
磁存储单元与其制造方法。采用与自由层大小不同的铁磁下电极固定层,由于较为宽大的磁性下电极,可以产生较佳均匀性的外露磁场,使得自由层的边缘处(End Domain)区域极化向量分布正常,达到较佳的翻转特性。上述工艺亦可使用自对准的工艺方式达成。而调整适当的磁性下电极外露磁场,可以让整个自由层不同位置感受实体上相同的外加磁场,可以达成磁存储单元非常低的拴扣型写入电流特性。
基本信息
专利标题 :
磁存储单元与其制造方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN101022032A
申请号 :
CN200610003148.6
公开(公告)日 :
2007-08-22
申请日 :
2006-02-16
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
洪建中朱健刚高明哲
申请人 :
财团法人工业技术研究院
申请人地址 :
台湾省新竹县竹东镇中兴路四段195号
代理机构 :
北京连和连知识产权代理有限公司
代理人 :
高翔
优先权 :
CN200610003148.6
主分类号 :
G11C11/15
IPC分类号 :
G11C11/15 G11C11/16 H01F10/10
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C11/00
以使用特殊的电或磁存储元件为特征而区分的数字存储器;为此所用的存储元件
G11C11/02
应用磁性元件的
G11C11/14
应用薄膜元件的
G11C11/15
应用多层磁性层的
法律状态
2009-10-21 :
授权
2007-10-17 :
实质审查的生效
2007-08-22 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
CN100552810C.PDF
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2、
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