薄膜晶体管及其制造方法
专利权的终止
摘要
一种薄膜晶体管,包括一栅极、一绝缘层、一沟道层、一蚀刻中止层、一欧姆接触层、一源极及一漏极。栅极设置于一基板上。绝缘层设置于基板之上,并覆盖栅极。沟道层设置于部分的绝缘层上,并对应于栅极,且沟道层的宽度小于或等于栅极的宽度。蚀刻中止层设置于部分的沟道层上,并对应于栅极,且蚀刻中止层的宽度小于沟道层的宽度。欧姆接触层设置于部分的绝缘层上,并覆盖蚀刻中止层的二端及沟道层的二端。源极及漏极设置于欧姆接触层上,用以对应地透过欧姆接触层与沟道层的此二端电连接。
基本信息
专利标题 :
薄膜晶体管及其制造方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1828850A
申请号 :
CN200610006016.9
公开(公告)日 :
2006-09-06
申请日 :
2006-01-23
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
梁中瑜张鼎张刘柏村王敏全陈信立甘丰源
申请人 :
友达光电股份有限公司
申请人地址 :
台湾省新竹市
代理机构 :
北京市柳沈律师事务所
代理人 :
陶凤波
优先权 :
CN200610006016.9
主分类号 :
H01L21/336
IPC分类号 :
H01L21/336 H01L29/786
相关图片
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/02
半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21/04
至少具有一个跃变势垒或表面势垒的器件,例如PN结、耗尽层、载体集结层
H01L21/18
器件有由周期表Ⅳ族元素或含有/不含有杂质的AⅢBⅤ族化合物构成的半导体,如掺杂材料
H01L21/334
制造单极型器件的台阶式工艺
H01L21/335
场效应晶体管
H01L21/336
带有绝缘栅的
法律状态
2022-01-04 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : H01L 21/336
申请日 : 20060123
授权公告日 : 20090107
终止日期 : 20210123
申请日 : 20060123
授权公告日 : 20090107
终止日期 : 20210123
2009-01-07 :
授权
2006-10-25 :
实质审查的生效
2006-09-06 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
CN100449715C.PDF
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