制造薄膜晶体管的方法
专利权的终止
摘要
一种制造薄膜晶体管的方法,在绝缘透明衬底上形成一栅电极,再叠置多层不同折射率的栅绝缘膜,然后依次沉积半导体层、蚀刻阻止层和光刻胶膜;再经反向曝光、显影将光刻胶膜制成图形,并用其作为掩模选择蚀刻该蚀刻阻止层;再除去光刻胶膜,再依次制成n型掺杂半导体层和金属层,最后形成源、漏电极;用本法制造的薄膜晶体管用作LCD的开关元件,可改善器件特性,提高并简化工艺,提高产品生产率。
基本信息
专利标题 :
制造薄膜晶体管的方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1091551A
申请号 :
CN93119958.1
公开(公告)日 :
1994-08-31
申请日 :
1993-12-29
授权号 :
CN1033252C
授权日 :
1996-11-06
发明人 :
吴义烈
申请人 :
株式会社金星社
申请人地址 :
韩国汉城
代理机构 :
柳沈知识产权律师事务所
代理人 :
马莹
优先权 :
CN93119958.1
主分类号 :
H01L21/02
IPC分类号 :
H01L21/02 H01L21/336 H01L21/28 G02F1/13
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/02
半导体器件或其部件的制造或处理
法律状态
2014-02-05 :
专利权的终止
专利权有效期届满号牌文件类型代码 : 1611
号牌文件序号 : 101567131755
IPC(主分类) : H01L 21/02
专利号 : ZL931199581
申请日 : 19931229
授权公告日 : 19961106
期满终止日期 : 20131229
号牌文件序号 : 101567131755
IPC(主分类) : H01L 21/02
专利号 : ZL931199581
申请日 : 19931229
授权公告日 : 19961106
期满终止日期 : 20131229
2008-10-08 :
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
变更前 : LG菲利普有限公司
变更后 : LG显示器有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 韩国汉城
变更后 : 韩国首尔市
变更事项 : 专利权人
变更后 : LG显示器有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 韩国汉城
变更后 : 韩国首尔市
变更事项 : 专利权人
2000-01-05 :
著录项目变更
变更事项 : 专利权人
变更前 : 株式会社金星社
变更后 : LG菲利普有限公司
变更前 : 株式会社金星社
变更后 : LG菲利普有限公司
1996-11-06 :
授权
1995-01-18 :
实质审查请求的生效
1994-08-31 :
公开
1994-08-24 :
实质审查请求的生效
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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