用于半导体测试的方法和装置
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
本发明公开了一种半导体测试系统，包括：输入器；显示器；多个测试单元；存储器，其中存储了指定所述测试单元的操作过程的多个应用和与所述应用相关的多个分类；和控制器，其具有以下功能：显示所述分类，将与基于来自所述输入器的输入选择的分类相关的应用显示在所述显示器上，和执行由所述输入器从所显示的应用中选择的所述应用，并控制所述测试单元等。
基本信息
专利标题 ：
用于半导体测试的方法和装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1825129A
申请号 ：
CN200610007472.5
公开（公告）日 ：
2006-08-30
申请日 ：
2006-02-14
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
石塚好司
申请人 ：
安捷伦科技有限公司
申请人地址 ：
美国加利福尼亚州
代理机构 ：
北京东方亿思知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
柳春雷
优先权 ：
CN200610007472.5
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 G01R31/28 H01L21/66
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2008-10-22 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
2006-08-30 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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