半导体器件以及半导体器件的制造方法
专利权的终止
摘要

提供一种半导体器件以及半导体器件的制造方法,减少WP工序中的晶体管的特性变化和栅氧化膜的劣化。本发明的半导体器件具有:具有SOI晶体管的半导体芯片,在该SOI晶体管中,具有沟道区和夹着上述沟道区的扩散区的半导体层与元件分离层隔着第一绝缘层在支撑基板上形成,在半导体层上的沟道区上隔着第二绝缘层形成栅电极;且半导体芯片的第一表面上具有与SOI晶体管电气连接的第一电极焊盘和与支撑基板电气连接的第二电极焊盘。

基本信息
专利标题 :
半导体器件以及半导体器件的制造方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1862821A
申请号 :
CN200610068047.7
公开(公告)日 :
2006-11-15
申请日 :
2006-03-24
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
闲野义则
申请人 :
冲电气工业株式会社
申请人地址 :
日本东京
代理机构 :
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
代理人 :
岳耀锋
优先权 :
CN200610068047.7
主分类号 :
H01L27/12
IPC分类号 :
H01L27/12  H01L29/786  H01L23/482  H01L21/84  H01L21/336  
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法律状态
2018-04-17 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : H01L 27/12
申请日 : 20060324
授权公告日 : 20120523
终止日期 : 20170324
2013-12-25 :
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101683453735
IPC(主分类) : H01L 27/12
专利号 : ZL2006100680477
变更事项 : 专利权人
变更前 : 拉碧斯半导体株式会社
变更后 : 拉碧斯半导体株式会社
变更事项 : 地址
变更前 : 日本东京
变更后 : 日本横滨
2013-12-25 :
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
变更前 : OKI半导体株式会社
变更后 : 拉碧斯半导体株式会社
变更事项 : 地址
变更前 : 日本东京
变更后 : 日本东京
号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101683453734
IPC(主分类) : H01L 27/12
专利号 : ZL2006100680477
变更事项 : 专利权人
2013-12-25 :
专利申请权、专利权的转移
专利权的转移号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101683453733
IPC(主分类) : H01L 27/12
专利号 : ZL2006100680477
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 冲电气工业株式会社
变更后权利人 : OKI半导体株式会社
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 日本东京
变更后权利人 : 日本东京
登记生效日 : 20131210
2012-05-23 :
授权
2008-07-02 :
实质审查的生效
2006-11-15 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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